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電化學(xué)原子力顯微鏡EC-AFM-掃描

簡(jiǎn)要描述:電化學(xué)原子力顯微鏡EC-AFM-掃描的產(chǎn)品概述
多功能原子力顯微鏡平臺(tái),滿足納米級(jí)測(cè)量的需求

原子力顯微鏡(AFM)有納米級(jí)分辨率成像以及電,磁,熱和機(jī)器性能測(cè)量的能力。
納米管掃描系統(tǒng)可用于高分辨率掃描離子電導(dǎo)顯微鏡(SICM).
倒置光學(xué)顯微鏡(IOM)便于透明材料研究和熒光顯微鏡一體化。

  • 產(chǎn)品型號(hào):
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間:2025-02-18
  • 訪  問(wèn)  量:1485